Rastrovací tunelový mikroskop

Skenovací tunelový mikroskop, tiež známy ako skenovací tunelový mikroskop alebo tunelový skenovací mikroskop, je prístroj, ktorý využíva tunelový efekt v kvantovej teórii na detekciu povrchovej štruktúry látok. Vynašli ho v roku 1981 G. Binning a H. Rohrer v laboratóriu IBM v Zürichu vo Švajčiarsku a obaja vynálezcovia sa v roku 1986 podelili o Nobelovu cenu za fyziku s Ernstom Ruska.
Ako nástroj skenovacej sondy mikroskopia umožňuje skenovacia tunelová mikroskopia vedcom pozorovať a lokalizovať jednotlivé atómy a má vyššie rozlíšenie ako jej náprotivky v mikroskopii atómovej sily. Okrem toho môže skenovacia tunelová mikroskopia presne manipulovať s atómami pri nízkych teplotách (4K) pomocou hrotov sond, čo z nej robí dôležitý nástroj na meranie a spracovanie v nanotechnológii.
STM umožňuje ľuďom po prvýkrát pozorovať usporiadanie jednotlivých atómov na povrchu hmoty v reálnom čase a fyzikálno-chemické vlastnosti súvisiace s povrchovým elektronickým správaním. Má významný význam a široké možnosti uplatnenia vo výskume v oblasti povrchových vied, materiálových vied, biologických vied a iných oblastiach a medzinárodná vedecká komunita ho uznáva ako jeden z desiatich najlepších technologických úspechov na svete v 80. rokoch.